顯微鏡顆粒測量儀器簡介-顯微清潔度等級測量？
解答：
利用顯微鏡將粉粒體放大，不僅可以直接量測粉粒體的粒徑，還可以看見粉粒體的形狀，較小可量測至 0.1奈米。
但傳統的人工逐一的測量單一顆粒的粒徑再加以統計分析，不但耗費大量時間及人力且受人為因素影響極大，
因此較不適用于工業產品品質檢測之用
所以搭配全自動顯微油污等級分析系統可以克服以上缺點
詳情點擊：
顯微清潔度等級分析系統
http://www.bjsgyq.com/jxxwj/3365.html
與X 光繞射法比較 光繞射法有哪些缺點？
解答：光繞射法即是利用繞射原理，以激光撞擊粉粒體表面
量測其反射光的角度，將各個數據資料加以統計分析即可計算出粉粒體粒徑大小及分布特性。
此法僅能測得粉粒體的平均粒徑，無法測得其粒徑分佈且所得的粒徑資料有限、準確度差及儀器價格昂貴
